植物冠層分析儀隨著(zhù)現代農業(yè)的發(fā)展，被廣泛的應用在農業(yè)生產(chǎn)與農業(yè)科研，植物冠層分析儀在農作物不同生長(cháng)階段冠層結構變化的用處有哪些？

　　植物冠層分析儀可廣泛應用于農業(yè)生產(chǎn)和農業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線(xiàn)的攔截，研究作物的生長(cháng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols-1m-2）。

　　在LAI<1的情況下，地表植物覆蓋度分析儀測量玉米葉面積指數的結果大于玉米實(shí)際的葉面積指數；而地表植物覆蓋度分析儀的測量結果與實(shí)際葉面積指數相差較小。在測量LAI<1的玉米冠層時(shí)，將明顯高估玉米的葉面積指數，其可能原因是在玉米生長(cháng)發(fā)育早期，葉片稀疏，周?chē)叽笾参?、建筑物在TOP-1300植物冠層分析儀“魚(yú)眼"鏡頭的投影會(huì )造成儀器測量結果高估真實(shí)葉面積指數。

　　在LAI>2的情況下，兩種植被冠層分析儀的測量結果都與植物冠層分析儀實(shí)際測量結果有差異，通過(guò)配對比較t檢驗，兩種分析儀都明顯低估了玉米實(shí)際葉面積指數。

　　植物冠層分析儀測量結果較小低估實(shí)際葉面積指數0.32，較大低估實(shí)際葉面積指數達1.60；地表植物覆蓋度分析儀測量結果較小低估實(shí)際葉面積指數0.40，較大低估實(shí)際葉面積指數達1.05?？梢?jiàn)在玉米葉面積較大的情況下，使用兩種植物冠層分析儀很難準確測量玉米葉面積指數。

　　造成不同植物冠層分析儀在玉米不同生長(cháng)階段測量誤差不同的主要原因是玉米冠層結構變化快。因而單一選取某種測量誤差較小的植物冠層分析儀以減少誤差的方法只適用于冠層結構較為穩定的植物，不適用于冠層結構隨時(shí)間變化較快的農作物。