植物冠層分析儀可測量：葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。

　　操作原理：

　　葉面積指數(shù)(LAI)與植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)是在生態(tài)學(xué)與氣候?qū)W中是重要的生物物理參數(shù)。這些參數(shù)在生態(tài)學(xué)及氣候?qū)W領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。TRAC植物冠層分析儀采用創(chuàng)新技術(shù)，在冠層下方沿著橫斷面測定植物冠層吸收的光合有效輻射分量，然后將之轉(zhuǎn)換為林隙比例分布，從而計算出葉面積指數(shù)等其它參數(shù)。

　　1.任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發(fā)送或反射，物質(zhì)的特性就能被確定。在實際應(yīng)用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計植物的生物化學(xué)成份。

　　2.采用可見/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù)，可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。

　　注意事項：

　　1.要注意葉片與傳感器的距離;

　　植物冠層分析儀是利用傳感器來進行測量的，因此測量的過程中，要注意葉片與傳感器的距離，因為太近也會導(dǎo)致測量的誤差。因此要明確葉片與傳感器的距離限制，如果距離無法縮小，可以考慮增加重復(fù)次數(shù)來解決這個問題。

　　2.要避免陽光直射;

　　由于直射的陽光會導(dǎo)致測量誤差，因此在使用作物冠層分析儀測量的過程中，應(yīng)該盡量避免直射的陽光，一般來說理想的測量天氣為日出日落時或多云的天氣，其中遮蓋帽設(shè)計，也是為了降低由于光線造成的誤差，比如從傳感器的視野中去除太陽；從視野中去除操作者的影響；天空亮度不均勻；冠層內(nèi)有明顯的空隙；減小對測量樣地尺寸的需要；減小了森林內(nèi)必需的空地尺寸等。

　　3.注意斜坡的影響;

　　在測量的過程中，有些測量對象是在斜坡上的，因此此時就需要注意了，對于斜坡測量，使用作物冠層分析儀的時候，應(yīng)該盡量使傳感器保持與斜坡相匹配，而不是實際的水平。

　　4.注意樣地尺寸的影響;

　　由于在測量的過程中，要保證傳感器的視野范圍是冠層高度的3倍，因此這就對樣地的尺寸有要求，如果尺寸太小，勢必會影響測定結(jié)果，但是如果實在是無法解決樣地尺寸太小的問題，那么可以采用觀察帽的方法或是除第5個環(huán)的數(shù)據(jù)來解決這個問題。