植物冠層系統的測定一直以來(lái)都是個(gè)難題，費時(shí)費力，研究植物光合效率與其生長(cháng)特點(diǎn)之間的關(guān)系也是難上加難，當務(wù)之急，我們推出了一款能夠精準測定植物冠層系統的植物冠層分析儀，那這個(gè)植物生理儀器對測定植物數據有什么優(yōu)勢？

先來(lái)說(shuō)說(shuō)直接測量和間接測量都是如何進(jìn)行的。直接測量是通過(guò)想測定所有葉片的葉面積，再計算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數屬于毀壞性測量，或至少會(huì )干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數據的質(zhì)量，直接測量費時(shí)、費力。間接測量就是利用冠層結構與冠層內輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關(guān)系，通過(guò)植物冠層分析儀來(lái)測定植物冠層的相關(guān)數據，通過(guò)植物冠層的轉移模型來(lái)推斷LAI。 

植物冠層分析儀是通過(guò)處理影像數據文件來(lái)獲取與冠層結構有關(guān)的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過(guò)分析輻射數據的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測量法相比，采用植物冠層分析儀測量冠層數據，可以避免直接測量法所造成的大規模破壞植被的缺點(diǎn)，而且采用儀器進(jìn)行測量操作，具有方便快捷，不受時(shí)間限制，獲取數據量大等優(yōu)點(diǎn)，非常適合用于現代農業(yè)科研研究當中，因此目前植物冠層分析儀被廣泛應用于農業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)工作當中，并在實(shí)際工作中發(fā)揮了重要的作用。

綜上所述，在測定中，如果使用植物冠層分析儀等專(zhuān)業(yè)的測量?jì)x器，不僅會(huì )讓研究工作更省心、效率更高，而且測定的數據結果也更加準確，為農業(yè)生產(chǎn)提供更加科學(xué)有效的依據。